La série A Micro XRF est conçue pour des mesures très précises des plus petites caractéristiques aux rayons X présentes dans les semi-conducteurs et la microélectronique.

La Micro XRF série W utilise des optiques poly-capillaires pour focaliser le faisceau de rayons X à 7,5 µm FWHM, la plus petite taille de faisceau au monde pour l’analyse d’épaisseur de revêtement par technologie XRF.

La série M offre des performances exceptionnelles pour la mesure de l'épaisseur des revêtements sur les plus petites fonctionnalités.

Cela est rendu possible grâce à un système optique de focalisation par poly-capillaire, qui remplace l’assemblage de collimateur utilisé dans les systèmes standard de Bowman.

Elle offre une zone de mesure de 305 mm x 305 mm (12″ x 12″), la meilleure de sa catégorie, pour des pièces allant jusqu’à 222 mm (8,75″) de hauteur.

Offrant toutes les fonctionnalités de la série P avec l’avantage supplémentaire d’une chambre d’échantillons plus grande et d’un déplacement étendu de la platine X-Y.

Les analyseurs XRF de la série G de Bowman se distinguent par deux caractéristiques principales : une imagerie vidéo de précision avancée et une mesure exclusive

La série B de Bowman propose une solution simple et efficace pour les mesures XRF en configuration descendante.

Les analyseurs XRF de la série G de Bowman se distinguent par deux caractéristiques principales : une imagerie vidéo de précision avancée et une mesure exclusive