La série K a été conçue pour les départements qualité traitant une grande variété d’échantillons.

K Series XRF

Elle offre une zone de mesure de 305 mm x 305 mm (12″ x 12″), la meilleure de sa catégorie, pour des pièces allant jusqu’à 222 mm (8,75″) de hauteur. Un multi-collimateur motorisé permet de sélectionner différentes tailles de spots, tandis qu’une caméra à mise au point variable prend en charge des distances focales de 6,35 mm à 89 mm (0,25″ à 3,5″).

Une platine programmable à moteur servo assure un positionnement rapide et précis. La porte en porte-à-faux facilite l’accès à l’échantillon, et la fonction de visualisation « table view » permet de naviguer en un clic sur toute la zone mesurable. Un joystick intégré en option permet de contrôler manuellement la platine XY depuis le panneau avant, sans utiliser le logiciel.

Le système standard comprend un collimateur à 4 positions (4, 8, 12 et 24 mil), avec des tailles en option de 2x2 mil à 60 mil. La mise au point variable permet de mesurer des zones en retrait, et la précision de la platine atteint 10,2 µm (400 µin), avec reconnaissance de formes et mise au point automatique. Le système inclut un détecteur SDD et un tube à rayons X micro-focus longue durée.

La série K est conforme aux normes ASTM B568, ISO 3497 et IPC-4552.

Pour l’analyse de très petites caractéristiques, la série K est également disponible avec une optique poly-capillaire, dotée d’une optique de 15 µm FWHM, d’un détecteur LSDD et d’une platine de haute précision améliorée, avec une précision inférieure à 2 µm (80 µin). Une caméra à fort grossissement (140x) avec zoom numérique avancé, associée à une caméra secondaire à faible grossissement, permet une navigation fluide et un ciblage précis. En raison de la faible distance focale de l’optique, les échantillons doivent être plats.

Plage d’éléments : Aluminium (13) à Uranium (92)
Excitation par rayons X : Tubes à anode W micro-focus 50 W (50kV et 1mA) – anodes Cr, Mo, Rh disponibles
Détecteur : Collimaté : Détecteur à semi-conducteur en silicium, résolution 190eV ou meilleure
Optique : Détecteur à fenêtre large en silicium, résolution 190eV ou meilleure
Nombre de couches
et d’éléments analysables :
5 couches (4 couches + base), 10 éléments par couche. Analyse de composition jusqu’à 30 éléments simultanément
Filtres/Collimateurs : Collimaté : 4 filtres primaires / 4 collimateurs motorisés
Optique : 4 filtres primaires
Profondeurs focales : Collimaté : Profondeurs focales fixes multiples avec autofocus laser et image
Optique : Profondeur focale de sortie fixe à 0,15″ (3,81 mm)
Traitement numérique des impulsions : Analyseur multi-canaux numérique 4096 CH avec temps de formation flexible. Traitement automatique des signaux incluant la correction du temps mort et du pic d’échappement
Ordinateur : Processeur Intel CORE i5 9e génération, disque SSD, 16 Go de RAM, Microsoft Windows 11 Professionnel 64 bits ou équivalent
Optique de caméra : 2x CMOS 1/3″ – Résolution 2688×1520
Agrandissement vidéo : Collimaté : Zoom micro 30X et zoom numérique 7X (standard) ; micro 55X en option ; TableView en option
Optique : Micro 140X, zoom numérique 7X, macro 9X et TableView
Alimentation : 480W, 100~240 volts ; fréquence de 47Hz à 63Hz
Poids : 270 lbs / 120 kg
XY programmable : Dimensions de la table : 305 mm x 305 mm (12″ x 12″)
Déplacement XY : 305 mm x 305 mm (12″ x 12″)
Collimaté : Précision de la platine : 10,2 µm (400 µin)
Optique : Précision de la platine : <2 µm (80 µin)
Dimensions internes : Hauteur : 229 mm (9″), Largeur : 610 mm (24″), Profondeur : 610 mm (24″)
Collimaté : Déplacement Z max : 8,75″
Optique : Déplacement Z max : 8,5″
Dimensions externes : Hauteur : 668 mm (26,3″), Largeur : 711 mm (28,0″), Profondeur : 922 mm (36,3″)

Jean-Sébastien Barré

BOWMAN FRANCE
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